SPM-200 粗糙度与轮廓测量仪
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SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine1
SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine2
SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine3 scaled
SPM 200D图3 1
SPM 200D图5 1
SPM 200D图6 1
缩略图 1
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缩略图 3
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缩略图 6

产品特点与应用

产品特点:

采用进口芯片传感器,分辨率高达0.01μm。
粗糙度测量范围±1500μm,满足高精度工业检测需求。
支持轮廓与粗糙度的多维分析,涵盖多种参数(如Ra、Rz等)。
支持导入/导出CAD文件进行轮廓比对。
自动编程实现快速检测及合格/不合格判定,提升效率。
三轴霍尔摇杆控制,操作灵活便捷。电动立柱系统配合直线导轨,确保运动稳定性。
自动接触保护功能,减少测针损伤。
爬坡角度:上升77°,下降87°,适用于复杂工件表面检测。
配备大角度可调工作台(±30°倾斜)及可调平口钳(0~45°)。
支持最小内孔5mm的检测。
采用00级(精度误差3μm)花岗岩基座,抗振性强,长期稳定性好。
软件支持一键生成PDF/Word/Excel报告,输出格式多样。
模块化设计(如碳纤维测臂、硬质合金测针),便于更换,维护成本低。

产品应用:

汽车制造
检测精密部件(齿轮、轴承)的表面粗糙度与轮廓精度,确保摩擦副的润滑、密封及疲劳寿命,防止因表面缺陷导致功能失效。
航空航天
验证高精度曲面的加工质量,分析表面波纹度,确保极端环境下部件的气动性能与结构强度。
精密电子与半导体制造
测量纳米级粗糙度(Rq、Rsk)及微观轮廓,确保信号传输稳定性,防止因表面缺陷导致的短路或信号衰减。

技术规格

测量范围 X方向驱动 130mm
Z1轮廓范围 20mm
Z1粗糙度范围 ±1500μm
Z1分辨率 0.02μm
Z轴高度 400mm(可选550mm)
最小可测内径 Ø5mm
轮廓技术参数 轮廓线性精度 ±(0.7+|0.12H|)μm
圆弧精度 ±(1.5+R/12)μm
角度 ±1′
直线度(X轴) 0.5μm/100mm
粗糙度技术参数 粗糙度线性精度 ≤±3%
残余噪声 ≤0.005μm
重复性稳定性 ≤ 读数值的3%
截止波长 0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
评定长度 λcX1、2、3、4、5
分辨率 0.01μm
爬升角度 上升:77° 下降:88°
粗糙度评估参数 Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2
测量速度 0.05-20mm/s
Z轴速度 0.05-20mm/s

标准配置

名称 数量
粗糙度轮廓仪主机 1台
大角度可调工作台 1台
平口钳 1把
校准标准件 1套
测针 1支
测杆 1根 /
电脑 1台 /
打印机 1台 /
软件U盘 1件 /
合格证/保修卡 各1份
软件操作手册 1份

可选配置

不同尺寸的触针
夹具
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