产品描述
| CSK-IA | LS-I、II | CS-2 |
 |  |  |
| CSI | CS-1-5 | DB-P |
 |  |  |
类型 | 执行标准 | 介绍 |
CSK-IA | NB/T47013-2015 | 主要用于校准横波角 超声波探伤仪的光束探头，包括 前沿等参数的测量 距离、K 值（折射角的正切）以及 声束偏转角。 |
LS-I、II | DL/T694-2012 | 主要用于性能测试和校准 超声波探伤设备。它有助于缺陷检测 确定关键参数的重刑人员，例如 探伤设备的灵敏度和分辨率。 |
CS-2 | NB/T47013-2015 | 用于校准单晶普通探头。 |
CSI单晶标准试块 直探头 | JB/T 4730-2005 | 用于校准超声波探伤仪和单晶普通探头的综合性能，以确保 仪器和探头能够准确检测 工件中的缺陷。 |
CS-1-5 | JB/T 8428-2015 | 用于测量组合的灵敏度裕度 普通探头和仪器的性能、调整 缺陷检测灵敏度，确定缺陷尺寸，以及 评估垂直等绩效指标 仪器的线性度及其形状。 |
DB-P超声波 标准试块 | NB/T47013-2015 ZB Y232-84 | 主要用于超声波探伤探头的校准 检测器、调整检测灵敏度并创建 距离-幅度曲线。 |
