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MS-XH414-SDD / MS-XH404-SIPIN手持式X射线荧光涂层成分分析仪

使用优点
便携性:仪器体积更小,重量更轻,方便现场实时测试,可轻松处理各种形状的样品。
NDT:快速、准确地分析涂层样品的涂层厚度和样品元素含量,且不损伤检测对象。
散热:探测器温度设置≥-3℃,发热量远低于同类产品,无需频繁等待探测器冷却。
高品质进口检测器:仪器采用适合分析多元素涂层的进口检测器,噪音低,对涂层结构响应灵活。
定性定量方法准确可靠:通过采用先进的智能FP算法,仪器不仅测量速度更快,测量精度更高,测量一致性更强。
状态:
数量:

产品描述

模型MS-XH414-SDD
 (高端)
MS-XH404-斯品
 (经济的   类型)
探测器SDDSI-PIN
测量元件范围镁 (12) - 铀 (92)钙 (20) - 铀 (92)
测量精度  (RSD)       < 1%  (RSD)       < 2%
检测限0 .01μm- 60μm0 .05μm- 60μm
主控系统定制工业级主控系统
CPU:2.4GHz;
运行内存:2G;
机身存储:4G,
可扩展支持 32G
定制工业级
主控系统
CPU:2.4GHz;     运行内存:1G;
机身存储:4G
数据传输U盘、电子邮件WiFi、蓝牙
网络连接方式WiFi、蓝牙
相机500WHd相机
检测头保护罩(专利保护)探头保护、现场校准、辐射防护
分析方法经验系数法+FP法
同时检测元素可定制     根据     到     顾客     要求
激励源50kV/200μA X射线荧光
冷却方式两级     热电     冷藏
工作温度0℃  — 40℃
工作湿度≤90%
安全    多种的     安全     保护:     和     目的     传感     功能     和     聪明的     地位     展示     光
外形尺寸254毫米(长)×91毫米(宽)×319毫米(高)
外观材质合金聚碳酸酯
重量1.75Kg(含电池)


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