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MS-XH417-SDD / MS-XH407-SIPIN手持式X射线荧光矿石分析仪

使用优势
便携性
该仪器体积更小,重量更轻,方便实时现场测试,可以轻松处理各种形状的样品。
无损检测
快速准确地分析镀层样品的镀层厚度和样品元素含量,且不损伤测试对象。
散热
探测器温度设置≥-3℃,发热量远低于同类产品,无需频繁等待探测器冷却。
高品质进口探测器
仪器采用适合分析多元素涂层的进口探测器,噪音低,对涂层结构响应灵活。
准确可靠的定性和定量方法
仪器采用先进的智能FP算法,不仅测量速度更快,测量精度更高,测量一致性更强。
状态:
数量:

产品描述

参数规格

模型

MS-XH417-SDD

(高端)


MS-XH407-SIPIN

(经济)


探测器

SDD


斯品


测量元件

范围  

镁(12)-铀(92)


钙(20)-尿(92)


测量精度

(相对标准偏差) < 1%


(相对标准偏差) < 2%


检测厚度范围

0.01μm-60μm


0.05μm-60μm


主控系统

定制工业级主控系统

CPU:2.4GHz;

运行内存:2G;

机身存储:4G,

可扩展支持 32G

定制工业级

主控系统

CPU:2.4GHz;

运行内存:1G;

机身存储:4G


数据传输

U盘、电子邮件

无线WiFi、蓝牙

网络连接方式

无线网络、蓝牙

相机


500W高清摄像头


检测头保护罩

(专利保护)


探头保护、现场校准、

辐射防护


分析方法

经验系数法+FP法


同时检测元素

可根据客户要求定制

激励源

50kV/200μA X射线荧光


冷却方式


两级热电制冷


工作温度


0℃ — 40℃


工作湿度

≤90%

安全

多重安全保护:具有物体感应功能和智能状态显示灯


外形尺寸

245毫米(长)×91毫米(宽)×319毫米(高)

外观材质

合金、聚碳酸酯


重量

≤1.75KG(含电池)



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