浏览数量： 0 作者： 本站编辑 发布时间： 2025-11-22 来源： 本站
Mikrosize 3D 轮廓仪：用于精密表面分析的多模式计量
在要求严格的精密计量领域，3D 轮廓仪已成为一种重要的非接触式测量仪器。作为测量测试仪器行业的首要供应商，Mikrosize 提供将多种光学技术集成到单个自动化平台上的先进系统。这种多模式方法为从工业质量控制到尖端材料科学研究的各种材料和应用的高精度表面表征提供了无与伦比的多功能性。
多模式集成：多功能测量的核心
现代 3D 轮廓仪的基本优势在于其协同使用互补的无损技术。 Mikrosize 系统允许用户在同一软件环境中的不同测量模式之间无缝切换，而无需移动样品，从而显着提高数据完整性和工作流程效率。
白光干涉测量 (WLI)：该技术利用光的波动性来实现纳米级垂直分辨率。它非常适合快速测量粗糙表面、大台阶高度和复杂地形。 WLI 是摩擦学研究中表面粗糙度测量、平整度测试和体积损失评估的首选方法。
共焦显微镜：共焦显微镜利用空间针孔消除离焦光，通过垂直扫描焦点来构建高对比度 3D 图像。它非常适合透明或多层材料、高倾斜表面以及需要最高横向分辨率的应用。该模式非常适合透明层上的 膜厚测量 以及曲面上精细特征的详细检查。
Mikrosize 轮廓仪能够在 WLI 和共焦模式之间即时切换，从而大大降低了设备成本和空间要求。它还彻底改变了分析：用户可以使用 WLI 执行快速、大面积扫描，以定位感兴趣区域，然后切换到共焦模式，对特定特征进行高放大倍数、详细分析，所有这些都具有完美的坐标对齐。
复杂材料的卓越成像兼容性
计量学的一个关键挑战是表面的多样性。 Mikrosize 3D 轮廓仪专为克服这些挑战而设计，与各种难以测量的材料具有出色的兼容性。
透明表面：共焦模式的光学切片功能使其能够精确定位透明薄膜的顶面，从而能够准确评估涂层、光刻胶和光学层的薄膜厚度，而不会产生测量伪影。
弯曲和倾斜表面：凭借高数值孔径物镜和复杂的算法，这些系统可以对复杂的几何形状（如镜片、医疗植入物和精密加工零件）进行精确的 3D 形态重建。
具有挑战性的材料：高灵敏度探测器和优化的照明确保从低反射率表面（例如碳复合材料）和高吸收性材料可靠地采集数据。
这种技术互补性使 Mikrosize 3D 轮廓仪成为实验室和质量控制部门处理各种复杂样品的通用工具。
强大的标准化软件可提供可行的见解
通过强大的集成软件可以充分释放硬件的潜力。 Mikrosize提供符合国际标准的标准化分析软件，支持全面的数据处理：
形态和粗糙度分析：根据 ISO 25178 对 2D 和 3D 纹理参数（例如 Sa、Sq）进行高级过滤和计算，以进行完整的表面形态分析。
尺寸计量：精确测量台阶高度、角度、体积和距离。
薄膜表征：透明层的自动薄膜厚度测绘。
数据关联：直接比较同一位置不同模式的测量结果，以获得稳健、可追溯的结果。
该软件不仅确保数据准确，而且可追溯且合规，这对于工业认证和学术研究都至关重要。
跨行业的广泛应用
3D 轮廓仪的多功能性使其在众多领域中不可或缺。
工业测试：
汽车/航空航天：部件的体积磨损评估和涂层的台阶高度测量。
半导体/电子：晶圆和光刻胶的关键膜厚测量。
精密制造：大型板材的超长距离减薄厚度测量和机加工件的质量控制。
研究与开发：
材料科学：重建表面形态以研究生长机制、腐蚀和磨损。
生物医学工程：表征植入物的质地并分析生物组织。
薄膜开发：新涂层的研发，分析其均匀性和粗糙度。
Mikrosize ：您值得信赖的计量合作伙伴
作为测量测试仪器的领先供应商，Mikrosize 致力于提供完整的计量解决方案。我们的 3D 轮廓仪以深厚的应用专业知识、全面的技术支持为后盾，并致力于确保我们的客户实现最高水平的测量精度和生产力。我们提供的基本工具，推动全球质量和创新。 表面粗糙度测量、薄膜厚度评估和精密台阶高度测量
