坚定不移地实现亚微米测量

重新定义精度：适合高要求应用的先进测量显微镜

在现代制造和质量控制的复杂世界中，对精确可靠的测量解决方案的需求是普遍的。无论待测样品是大还是小，测量内容是简单还是复杂，测量人员是初学者还是专家，高性能测量显微镜都是必不可少的工具。这些先进的测量测试仪器源自 Mikrosize 等领先的行业供应商，旨在满足您的特定需求，提供可根据独特应用要求量身定制的可定制解决方案，确保自信且准确地应对每一项测量挑战。

无与伦比的光学清晰度，提供卓越的分辨率

任何精确测量的基础在于其光学系统的质量。我们的显微镜采用著名的 UIS2 无限远校正光学系统，这是目前最先进的研究级显微镜所使用的标准。这种卓越的光学技术确保观察到的图像具有极高的分辨率和对比度。此外，光学像差被有效消除，保证即使是最小的细节也能以惊人的清晰度呈现。这种对卓越光学性能的承诺对于高精度测量至关重要，在高精度测量中，每一微米都很重要，视觉数据的完整性至关重要。

专为稳定性而设计：花岗岩底座的优势

为了将卓越的光学性能转化为可靠、可重复的测量数据，仪器的机械稳定性不容忽视。这就是为什么我们采用了精雕细刻的花岗岩平台底座，这一功能可显着提高所有测量的可靠性。花岗岩非常耐用，天然抗振，并表现出卓越的热稳定性。这种坚固的结构经常出现在 Mikrosize 等供应商提供的最好的测量测试仪器产品中，可确保最大限度地减少环境干扰。直接结果是，测量可以始终达到 亚微米级 的精度，并显着减少由外部因素引起的误差，为您的所有计量任务提供稳定且值得信赖的基础。

实现 高精度 3 轴测量

随着组件小型化和复杂性不断增加的趋势，高精度测量变得比以往任何时候都更加重要，并且这超出了传统的 XY 平面，包括 Z 轴方向。为了满足这种不断增长的工业需求，已经成功开发出创新的解决方案。我们为测量显微镜提供自动对焦系统，采用主动反射和共焦方法。我们通过与专业供应商的合作获得这一先进技术，提供简单且易于操作的高精度 3 轴测量。该功能使操作员能够轻松执行复杂的高度、深度和表面形貌分析，使所有技能水平的用户都可以进行复杂的计量，并巩固了显微镜作为综合测量测试仪器的作用。

满足您计量需求的合作伙伴关系

选择合适的设备只是第一步。通过与 Mikrosize 等知名创新供应商合作，用户获得的不仅仅是产品；还包括其他产品。他们建立了伙伴关系。这种关系确保获得持续的技术支持、应用专业知识，并致力于提供随行业需求而发展的测量测试仪器解决方案。这种全面的方法可确保您的投资在未来几年继续创造价值，推动流程的质量和创新。